可控矽測試儀是可控矽整流元件的簡稱，是一種具有三個PN結的四層結構的大功率半導體器件，亦稱為晶閘管。可控矽測試儀具有體積小、結構相對簡單、功能強等特點，是比較常用的半導體器件之一。
可控矽測試儀被廣泛應用於各種電子設備和電子產品中，多用來作可控整流、逆變、變頻、調壓、無觸點開關等。家用電器中的調光燈、調速風扇、空調機、電視機、電冰箱、洗衣機、照相機、組合音響、聲光電路、定時控製器、玩具裝置、無線電遙控、攝像機及工業控製等都大量使用了可控矽器件。
可控矽測試儀係統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由於係統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。
可控矽測試儀係統麵板的顯示裝置能夠及時顯示係統的各種工作狀態和測試結果。前麵板的小鍵盤方便了係統操作。通過小鍵盤，可控矽測試儀係統可以脫開主控計算機獨立完成多種測試。
可控矽測試儀主要應用範圍：
1、可以測量0.-1000A以下的單雙向可控矽測試儀及各種可控矽模塊的IGT、VGT、VDSM、VRSM。
2、可以測量可控矽的雙向觸發二極管的轉折電壓。
3、可以測量各種大小功率的二極管、三極管、穩壓管、場效應管、IGBT及各種模塊的擊穿電壓。
4、可以測量各種大小功率的壓敏電阻、放電管等的擊穿電壓。
5、可以測量非電解類小容量電容器的耐壓（尤其可以測量4KV以下的小容量高壓電容）。
6、一般可控矽測試采用0-4KV等級的儀器已能滿足要求，若有其它特殊要求可以定製zui高達0-12KV的儀器。
服務熱線：15801328661
產品分類
更新時間：2017-11-07 
瀏覽次數：2444
您的位置：
