可控矽測試儀是晶閘管觸發電壓VGT、觸發電流IGT和維持電流IH三項參數的測試設備。適用於各種反向阻斷晶閘管，逆導晶閘管及雙向晶閘管的參數測試。本測試儀設計先進，結構合理，操作簡便。並具有數字顯示，自動測試等功能。其技術指標符合GB4024-83標準的規定，是電力半導體器件生產廠和使用單位zui為理想的檢測設備。
可控矽測試儀主要用於可控矽使用廠家對可控矽元件的質量檢驗、參數的配對、可控矽設備的維修之用。可控矽測試儀還可以廣泛的應用於對多種電子元器件的高低壓耐壓的測試。儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、使用安全方便。
可控矽測試儀產品介紹：
１、它可以測量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的各種電流等級的塑封單、雙向可控矽（晶閘管）。
２、專門設計了0-1O00uA的觸發電流量程，可以直接測量MCR100-6等微安級觸發電流的可控矽。
３、可以測量DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控矽輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控矽輸出的光電耦合器。
４、可以測量200A以下的螺銓型單、雙向可控矽和可控矽組合模塊。
５、測試觸發電流和觸發電壓時無需人工調節，可控矽插入測試座後儀器會自動的調節至觸發值，並穩定的顯示觸發電流IGT/觸發電壓VGT。
６、測試可控矽耐壓參數時隻需一次性調節好zui高輸出電壓值，以後每測一個管子隻要按下高壓按鈕即可顯示該可控矽的耐壓值。
服務熱線：15801328661
產品分類
更新時間：2018-03-28 
瀏覽次數：2134
您的位置：
