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產品分類
Cassification
更新時間：2015-12-10 
瀏覽次數：2703可控矽種類繁多，分為(wei) 普通可控矽，快速可控矽，雙向可控矽，可控矽模塊；那麽(me) 問題就來了，種類繁多的可控矽要依靠於(yu) 檢測什麽(me) 指標才能知道出廠前是否合格，而檢測指標的儀(yi) 器又分為(wei) 哪幾種呢？下麵，是由18新利安卓技術人員整編出來的專(zhuan) 業(ye) 論文，希望對用戶選型有幫助！
嚴(yan) 格意義(yi) 上講，所有可控矽出廠前必須經過檢測，主要通過以下三種指標完成測試：
1.觸發參數，又包含電流參數，電壓參數，維持電流參數；
2.阻斷峰值電壓
3.峰值壓降
三種指標對應三種不同的測試儀(yi) ，即晶閘管觸發特性測試儀(yi) ，晶閘管阻斷電壓測試儀(yi) ，晶閘管通態峰值電壓測試儀(yi) ，這三種我公司常年有貨，價(jia) 格也是，歡迎用戶選購。
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