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可控矽測試儀那些特性的好壞,影響了什麽

更新時間:2018-04-26      瀏覽次數:3172
   可控矽測試儀的伏安特性和觸發特性是晶閘管的zui基本特性,這些特性的好壞,直接影響到器件在整機上的正常使用。因此,可控矽測試儀檢測晶閘管的伏安特性和觸發特性在晶閘管器件的生產、經銷及使用過程中都是十分重要的。測試以上參數通常由晶閘管伏安特性測試儀和晶閘管門極觸發特性測試儀完成,測試伏安特性參數時還需另配一台示波器觀看伏安特性曲線,以上三台儀器常規價在7000—10000元以上,且台數多、占地大、操作不方便。我們根據廣大用戶的需求,現研製出將以上三台儀器作在一起的晶閘管伏安特性、觸發特性綜合測試儀。
  
  可控矽測試儀能以毫安級電流控製大功率的機電設備,如果超過此頻率,因元件開關損髦顯著增加,允許通過的平均電流相降低,此時,標稱電流應降級使用。
  
  可控矽測試儀擴展性強,通過選件可以提高電壓、電流和測試品種範圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。係統采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由於係統內部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。可控矽測試儀麵板顯示裝置可及時顯示係統的各種工作狀態和測試結果,前麵板的功能按鍵方便了係統操作。通過功能按鍵,係統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
  
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